光纤|光纤接头熔接损耗的测量

【光纤|光纤接头熔接损耗的测量】光纤接头熔接的过程中，我们需要时刻关注熔接损耗，在适当的环节中进行测量。本文将围绕一般光纤接头熔接损耗的测量讲解，使用的工具依然是光时域反射仪（OTDR）。
这种仪器采用后向散射法来测量光纤接头处的熔接损耗值。熔接机上虽也显示熔接损耗值，但因其是采用光纤芯轴直视法进行局部监视测得的，仅在非常理想的状态下才反映实际的熔接损耗，故一般仅供参考用。
一、测量过程的介绍
由于光纤的折射率、芯径、模场直径及瑞利散射系数的不同，所以从光纤接头两端分别测量熔接损耗得到的两个方向的熔接损耗测量值是不同的且相差较大，所以熔接损耗的测量应分别从光纤接头的两端进行测量，亦即双向测量，取两个方向测量值代数和的平均值作为该接头处熔接损耗值。
由于被接续的两根光纤散射性能的差异， OTDR测得光纤接头的熔接损耗值可能为正值也可能为负值，对熔接损耗为负值的光纤接头可认为熔接合格，一般不重新熔接；熔接时每个接头的熔接损耗的OTDR测量值一般应小于熔接损耗所要求的指标值的1／2－2／3 ，如指标要求小于0.1dB ，则单向测量值一般应小于0.05－0.06dB 。
测量熔接损耗的方法一般有远端监测法，即置于机房内的OTDR通过带连接器的尾纤与被测光缆相连，光纤接续点不断向前移动，而OTDR始终在机房内对接续点进行质量监视和熔接损耗测量，其优点是测量偏差小，缺点是只能单向测量，适用于模场直径一致性较好的光纤。近端监测法即OTDR始终在接续点前边距接续处一个光缆盘长，缺点是OTDR需不断向前移动，影响仪器的使用，优点是OTDR的测量范围不要求太大。
二、测量过程中需要注意的要点
上述两种方法测得的熔接损耗值均是单向测量值，在光纤接头全部熔接完毕后再从光纤线路的另一端依次测量各个光纤接头的熔接损耗值，然后将每个接头的两个方向的测量值相加取平均值作为该接头的熔接损耗。
远端环回双向监测法即是将光线内的光纤临时作环接构成回路，从而可对光纤接头进行双向测量，避免了单向测量不能及时获得熔接损耗值的点，这种测量方法要求OTDR的仪器测量距离范围要大，但因测量方法过于复杂因而只适用于12芯以下的光缆。